Naujienos

  • Spindulio kokybės analizatorius / profilometras – lazerio taško dydžio ir įsiskverbimo gylio ryšys

    Spindulio kokybės analizatorius / profilometras – lazerio taško dydžio ir įsiskverbimo gylio ryšys

    Lazerio taško dydžio ir įsiskverbimo gylio ryšys daugiausia atsispindi šiuose aspektuose: 1. Fotonų sklaida ir įsiskverbimo gylis. Taško dydis ir fotonų sklaida: didesnė taškas sumažina fotonų sklaidą įsiskverbimo į audinius metu. Didesnė taškas padengia platesnį odos plotą...
    Skaityti daugiau
  • Diferencinio interferencinio kontrasto (DIC) mikroskopai

    Diferencinio interferencinio kontrasto (DIC) mikroskopai

    1. Diferencinio interferencinio kontrasto (DIC) mikroskopijos veikimo principas Diferencinio interferencinio kontrasto (DIC) mikroskopija veikia koherentinės šviesos interferencijos principu, paversdama mėginio paviršiaus topografijos pokyčius optinio kelio skirtumais. Padėties jautrus detektorius matuoja...
    Skaityti daugiau
  • Monokristalio silicio optiniai lęšiai – didelio dydžio silicio

    Monokristalio silicio optiniai lęšiai – didelio dydžio silicio

    Monokristalinis silicis (Si) yra chemiškai inertiška medžiaga, pasižyminti dideliu kietumu ir netirpumu vandenyje. Jis pasižymi puikiu pralaidumu 1,2–7 μm bangos ilgio diapazone ir tolimajame infraraudonųjų spindulių diapazone nuo 300 iki 300 μm – savybe, kuri nėra įprasta kitose infraraudonųjų spindulių medžiagose. Monokristalinis silicis...
    Skaityti daugiau
  • Femtosekundinė lazerinė optika — itin sparčioji optika

    Femtosekundinė lazerinė optika — itin sparčioji optika

    Femtosekundiniai lazerio impulsai yra itin trumpos trukmės ir itin didelės maksimalios galios, galintys išgarinti kietą keramiką, pertvarkyti ragenos audinį jo nedeginant ir sukelti netiesinius optinius efektus. Šios savybės nustato griežtus reikalavimus optiniams komponentams: jei veidrodžiai, l...
    Skaityti daugiau
  • ZnSe telecentrinis lęšis tiksliam CO₂ lazeriniam žymėjimui ir pjovimui

    ZnSe telecentrinis lęšis tiksliam CO₂ lazeriniam žymėjimui ir pjovimui

    TSL serijos telecentrinio skenavimo lęšiai skirti 9,4 µm ir 9,6 µm CO₂ lazerio galvo apdorojimui. Spindulys į ruošinį krinta statmenai, užtikrindamas puikų vienodumą visame lauke, sukurdamas apvalias, taisyklingas skyles, tiesiai nupjautas šonines sieneles ir nuoseklius ženklinimo rezultatus. ...
    Skaityti daugiau
  • Parodoje pristatoma dirbtiniu intelektu paremta tikslios optinės patikros sistema

    Parodoje pristatoma dirbtiniu intelektu paremta tikslios optinės patikros sistema

    Spalio 11 d., 2026 m. Kinijos (Sudžou) fotonikos pramonės plėtros konferencijoje, „Nanjing Wavelength Opto-Electronic Technology Co., Ltd.“ („Wavelength OE“) pristatė savo nepriklausomai sukurtą „Tiksliosios optinės lęšių patikros sistemą, pagrįstą dirbtinio intelekto vizualiniu dideliu modeliu ir FPGA krašto skaičiavimu...“.
    Skaityti daugiau
  • Didelės diafragmos optinių komponentų apdorojimo ir testavimo galimybės

    Didelės diafragmos optinių komponentų apdorojimo ir testavimo galimybės

    Aukštos klasės optinių prietaisų gamyboje tiksli didelės diafragmos optinių komponentų apdorojimas ir bandymai yra būtini siekiant tobulinti aviacijos ir kosmoso pramonę, tiksliuosius prietaisus ir optoelektronines sistemas. Vadovaujamas optinių prietaisų gamybos daktaro, Pažangusis optinės gamybos centras „Wavelength“...
    Skaityti daugiau
  • Produkto rekomendacija | Lazerinio 3D spausdinimo optinė sistema

    Produkto rekomendacija | Lazerinio 3D spausdinimo optinė sistema

    Lazerinio 3D spausdinimo technologijoje optinė sistema veikia kaip „nervų centras“, tiesiogiai veikiantis spausdinimo tikslumą, efektyvumą ir stabilumą. Jos esmė – koordinuotas tikslių optinių komponentų serijos veikimas – nuo ​​lazerio spindulio kondicionavimo iki tikslaus fokusavimo su...
    Skaityti daugiau
  • Diferencinio interferencinio kontrasto (DIC) mikroskopai

    Diferencinio interferencinio kontrasto (DIC) mikroskopai

    1. Diferencinio interferencinio kontrasto (DIC) mikroskopijos veikimo principas Diferencinio interferencinio kontrasto (DIC) mikroskopija veikia koherentinės šviesos interferencijos principu, paversdama mėginio paviršiaus topografijos pokyčius optinio kelio skirtumais. Padėties jautrus detektorius matuoja...
    Skaityti daugiau
  • Reguliuojama žiedinių sijų sistema

    Reguliuojama žiedinių sijų sistema

    Kai žmonės pagalvoja apie lazerinį apdirbimą, pirmiausia į galvą dažnai ateina Gauso spindulys – energija, sutelkta centre, tarsi aštrus šviesos taškelis. Tačiau galios akumuliatorių ir tiksliosios elektronikos gamybos sektoriuose žiedinių spindulių sistemos tapo pagrindiniu įrankiu naujos kartos...
    Skaityti daugiau
  • Bangos ilgio optoelektronikos kelias į tiksliąją optiką

    Bangos ilgio optoelektronikos kelias į tiksliąją optiką

    „Wavelength Optoelectronics“ yra vidutinės grandies įmonė optikos pramonės grandinėje. Jos optiniai komponentai, įskaitant lęšius, veidrodžius, filtrus ir lęšių mazgus, yra pagrindiniai komponentai, naudojami lazeriuose, apsaugos stebėjimo sistemose, 3C elektronikoje, gyvybės moksluose ir medicinos priežiūroje bei aviacijos ir kosmoso pramonėje. Įmonė...
    Skaityti daugiau
  • Kalcio fluorido (CaF₂) lęšių apdorojimo galimybės

    Kalcio fluorido (CaF₂) lęšių apdorojimo galimybės

    Kalcio fluorido (CaF₂) lęšių apdorojimo galimybės. Kalcio fluoridas (CaF₂) yra svarbi optinių kristalų medžiaga. Dėl itin plataus pralaidumo diapazono nuo giliųjų ultravioletinių (DUV) iki vidutinių infraraudonųjų spindulių (MIR), jis plačiai naudojamas optikos srityje. CaF₂ neturi reikšmingo vidinio dvigubo refrakcijos...
    Skaityti daugiau
1234Toliau >>> 1 puslapis / 4